《光學和光子學 光學薄膜 第3部分 環境適應性》

前言

GB/T 26332《光學和光子學 光學薄膜》分為4個部分：

—第1部分：定義；

—第2部分：光學性能；

—第3部分：環境適應性；

—第4部分：規定的試驗方法。

本部分為GB/T 26332的第3部分。

本部分使用翻譯法等同采用ISO 9211-3：2008《光學和光子學光學薄膜 第3部分：環境適應性》（英文版）。

本部分按照GB/T 1.1-2009給出的規則起草。

與本部分中規范性引用的國際文件有一致性對應關系的我國文件如下：

—GB/T 12085.1-2010 光學和光學儀器環境試驗方法 第1部分：術語、試驗范圍（ISO9022-1：1994，MOD）

—GB/T 12085.2-2010 光學和光學儀器環境試驗方法 第2部分：低溫、高溫、濕熱（ISO9022-2：2002，MOD）

—GB/T 12085.4-2010 光學和光學儀器環境試驗方法 第4部分：鹽霧（ISO9022-4：2002， MOD）

—GB/T 12085.6-2010 光學和光學儀器環境試驗方法 第6部分：砂塵（ISO9022-6：1994， MOD）

—GB/T 12085.9-2010 光學和光學儀器環境試驗方法 第9部分：太陽輻射（ISO9022-9：1994， MOD）

—GB/T 12085.11-2010 光學和光學儀器環境試驗方法 第11部分：長霉（ISO9022-11：1994， MOD）

—GB/T 12085.12-2010 光學和光學儀器環境試驗方法 第12部分：污染（ISO9022-12：1994， MOD）

—GB/T 12085.14-2010 光學和光學儀器環境試驗方法 第14部分：露、霜、冰（ISO9022-14：1994， MOD）

—GB/T 26332.4-2015 光學和光子學光學薄膜 第4部分：規定的試驗方法（ISO9211-4：2012，IDT）

本部分由中國機械工業聯合會提出并歸口。

本部分起草單位：沈陽儀表科學研究院有限公司、大連化學物理研究所、同濟大學、浙江大學、沈陽匯博光學公司、杭州科汀光學技術有限公司、國家儀器儀表元器件質量監督檢驗中心。

本部分主要起草人：高鵬、陰曉俊、費書國、孫龍、王鋒、鄧淞文、趙帥鋒、王瑞生、溫東穎、王占山、程鑫彬、張勇喜、章岳光、顧培夫、徐秋玲、殷波、趙瓏現。

光學和光子學  光學薄膜

第3部分：環境適應性

1 范圍

GB/T 26332規定了在光學元器件及基片表面鍍制的光學薄膜的應用功能分類、技術指標的標準表述形式、常規特性及試驗測量方法、但不擬用于規定鍍制方法。

本部分規定了光學薄膜的使用條件分類，并確定了為證明光學薄膜滿足技術要求所需要進行的環境試驗。試驗的術語和范圍已在ISO 9022-1中給出。

本部分不適用于眼科光學（眼鏡）的光學薄膜。

2 規范性引用文件

下列文件對于本文件的應用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，僅注日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。

ISO 9022-1 光學和光學儀器 環境試驗方法 第1部分：術語、試驗范圍(Opticsand optical instruments-Environmental test methods—Part 1:Definitions, extent of testing)

ISO 9022-2 光學和光學儀器 環境試驗方法 第2部分：低溫、高溫、濕熱(Opticsand optical instruments-Environmental test methods—Part 2: Cold,heat and humidity)

ISO 9022-4 光學和光學儀器 環境試驗方法 第4部分：鹽霧(Opticsand optical instruments-Environmental test methods—Part 4: Saltmist)

ISO 9022-6 光學和光學儀器 環境試驗方法 第6部分：砂塵(Opticsand optical instruments-Environmental test methods—Part 6: Dust)

ISO 9022-9:1994 光學和光學儀器 環境試驗方法 第9部分：太陽輻射(Opticsand optical instruments-Environmental test methods—Part 9: Solarradiation)

ISO 9022-11 光學和光學儀器 環境試驗方法 第11部分：長霉(Opticsand optical instruments-Environmental test methods—Part 11: Mouldgrowth)

ISO 9022-12 光學和光學儀器 環境試驗方法 第12部分：污染(Opticsand optical instruments-Environmental test methods—Part 12: Contamination)

ISO 9022-14 光學和光學儀器 環境試驗方法 第14部分：露、霜、冰(Opticsand optical instruments-Environmental test methods—Part 12: Dew,hoarfrost, ice)

ISO 9211-4 光學和光學儀器 光學薄膜 第4部分：規定的試驗方法（Opticsand optical instruments-Optical coatings-Part 4: Specific test methods）

3 使用條件分類

3.1 類型定義

根據使用環境的嚴酷程度定義了五種使用條件類型。每種類型需要使用不同的環境試驗方法和（或）不同的試驗嚴酷等級。下面按照使用需求的嚴酷程度列出這些類型。

類型A：元件在使用中通常安裝在密封單元內部。處理這種類型的元件應在防護和受控的環境中進行，并且操作應十分小心，禁止接觸光學薄膜表面。

類型B：元件在使用中應處于受控的環境中。這種類型的元件在使用中可以承受輕微摩擦，例如對其小心地進行清潔。

類型C：這種類型的元件在使用中可暴露于正常的戶外環境，在清潔時應避免嚴重的磨損和擦傷。

類型D：這種類型的元件在使用中可暴露于惡劣的戶外環境，可以進行可能產生嚴重磨損和擦傷的非受控清潔。

類型O：如果元件的使用條件類型無法用上述類型A~D中的任何一種來說明，則歸為此類，需要對使用類型進行特殊說明。推薦的類型說明方法：首先指定一個能滿足大多數要求的類型，然后用別的類型或試驗嚴酷等級來描述其他的需求。

示例：“類型C；摩擦，濕熱：類型B；附著力：03”

3.2 使用和存儲條件

表1中描述的溫度是存儲條件。對某些類型的光學薄膜（例如帶通濾光片和高精度截止濾光片），只有在某一溫度范圍內可滿足光譜公差要求，針對這種情況，應根據應用要求，進行特殊規定。

3.3 基片的影響

應當指出，元件的使用條件類型不是僅由薄膜決定，而是由薄膜-基片這個組合整體決定的。

例如：鍍于玻璃上的薄膜，一般滿足類別C，但如果鍍制到敏感的或不穩定的基片上，情況就不同了。這種情況在一些試驗（例如：雨水、溶液、濕、熱和鹽霧試驗等）中可能表現得更加明顯。 

3.4 膠合薄膜

本部分不適用于膠合薄膜。對“基片-薄膜-膠合劑-基片”這種組合，其環境適應性更多取決于膠合劑的性質，同時也（相對的）取決于兩個基片的性質（如熱膨脹）。

4 詳細說明

鍍膜光學元件的機械和化學特性（通常考察的是環境適應性）能用多種測試方法進行評價。表1列出了測試方法，測試結果可反映鍍膜元件在對應工作環境中使用的適應性。表中所列的任一試驗嚴酷等級都可能會受到基片的限制。 

表1中列出的光學薄膜的技術測試，不需在同一個樣品上進行，每個測試都可在單獨的樣品上進行。

如有必要，表1所列的試驗可按嚴酷等級進行細分。試驗的嚴酷程度隨著數字的增加而增加。表1中描述的僅是關于試驗方法的簡要信息。完整的試驗程序應采用合適的國家標準（見表1“參考”欄），或由供求雙方協商確定。

按照“一個樣品承擔一個試驗”的原則進行的獨立試驗，可使制造者了解該試驗反映的光學薄膜的相應特性。在實際應用中，光學薄膜在使用中需要面對一系列不同嚴酷程度的環境，這可用一定的試驗序列來模擬。這種試驗序列必然反映累計的技術要求。若表1中的試驗未歸入A~D中任一使用條件類型，可確定歸為類型O，由供求雙方協商確定。

附錄A

（資料性附錄）

使用條件類型A、B、C、D試驗序列舉例

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